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“原子力顯微鏡技術新進展研討會”四川大學站

“原子力顯微鏡技術新進展研討會”四川大學站

開始時間2016年11月23日

結束時間2016年11月23日

舉辦地點四川大學

參會登記
已有594人關注

“原子力顯微鏡技術新進展研討會”四川大學站

  1986年成立至今,原子力顯微鏡技術已經過30年的發展。30年間,AFM的功能也從初的表面形貌測量發展成功能全面的材料物性測試工具。隨著技術的進步,如今第三代原子力顯微鏡能夠實現高分辨率成像,快速掃描的能力,并且更易操作。
  
  牛津儀器原子力顯微鏡將在南京大學和四川大學分別舉行“原子力顯微鏡技術新進展研討會”。兩場研討會將分別就AFM技術進展和納米電學性能表征測試等議題進行分享,我們還為大家現場演示超高分辨率,具有快速掃描能力的CypherS型AFM。歡迎大家參加!
  
  “原子力顯微鏡技術新進展研討會”四川大學站
  
  時間:2016年11月23日
  
  地點:四川大學望江校區(成都市一環路南一段24號紅瓦寺街北苑賓館三樓茶坊大會議室)

時間 安排 報告人
8:30-9:00 注冊  
9:00-9:40 AFM簡述 Dr. David BECK
9:40-10:15 使用AFM的納米力學方法對材料的表征和研究 Dr. Jonathan MOFFAT
10:15-10:30      茶歇  
10:30-11:15 使用AFM的電學方法對材料的納米尺度表征和研究 Dr. Jonathan MOFFAT
11:15-12:00 AFM技術的新進展和應用 AR
13:30-15:15 AFM高分辨成像模式展示 AR
15:30-17:00 AFM功能模式展示(PFM\SKPM) AR


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