NIST SRM 1976c X射線粉末衍射儀器標準品由燒結氧化鋁圓盤組成，用于校準 X 射線粉末衍射設備的線位置和強度作為 2θ 角的函數。

NIST SRM 1976c X射線粉末衍射儀器標準品由燒結氧化鋁圓盤組成，用于校準 X 射線粉末衍射設備的線位置和強度作為 2θ 角的函數。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過程引入的強度測量中的任何可變性。 SRM 1976c 的一個單元由一個直徑約為 25.6 毫米、厚度為 2.2 毫米的燒結氧化鋁圓盤組成。

材料說明：

用于生產此 SRM 的制造工藝是為生產電子元件基板而開發的。用作這些基材前體的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結構），具有片狀顆粒形態。血小板的直徑通常為 5 μm 至 10 μm，厚度為 2 μm 至 3 μm。圓盤的壓實過程導致軸對稱紋理基面趨向于與圓盤表面平行。紋理的這種軸對稱特性允許樣品以任何關于表面法線的方向安裝。使用小百分比的鈣長石玻璃相對壓塊進行液相燒結。未檢測到結晶雜質。液相燒結中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸，并在從燒結溫度冷卻碎片的過程中松弛。這導致微應變的最小發展及其相關的線展寬；盡管可以檢測到一些微應變，因為具有 tanθ 依賴性的高斯展寬。

鑒于此，以及基本不存在微晶尺寸展寬，NIST SRM 1976c X射線粉末衍射儀器標準品可用于獲得儀器輪廓函數 (IPF) 的近似值。但是，不推薦使用 SRM 1976c 進行定量微觀結構分析。包含該 SRM 原料的圓盤是在單一的專用生產運行中制造的，以確保微觀結構在晶粒尺寸、形狀、微應變和紋理方面的一致性。

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