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TSD-400F-3P 節能型冷熱沖擊試驗箱,適用于電子元件測試

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節能型冷熱沖擊試驗箱,適用于電子元件測試聚焦電子元件領域,可對芯片、電阻電容、傳感器等進行嚴苛測試。在高溫環境下,檢測元件是否出現性能衰退、短路風險;低溫測試時,判斷其是否產生脆化、接觸不良等問題,確保電子產品在氣候下正常運行。

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節能型冷熱沖擊試驗箱,適用于電子元件測試

一、核心用途

聚焦電子元件領域,可對芯片、電阻電容、傳感器等進行嚴苛測試。在高溫環境下,檢測元件是否出現性能衰退、短路風險;低溫測試時,判斷其是否產生脆化、接觸不良等問題,確保電子產品在氣候下正常運行。

節能型冷熱沖擊試驗箱,適用于電子元件測試


節能型冷熱沖擊試驗箱,適用于電子元件測試

二、技術參數

溫度范圍為 -60℃至 +130℃,滿足電子元件常見測試溫度區間;溫度沖擊速率達 15℃/min,快速完成溫度切換;溫度均勻度控制在 ±1.5℃,保證測試結果一致性;容積 120L,適配多數電子元件樣品尺寸。
三、制冷系統
運用變頻節能制冷技術,搭載高效渦旋壓縮機,根據測試需求智能調節功率,相比傳統設備節能 30% 以上。采用環保制冷劑 R513A,配合優化的冷凝與蒸發系統,提升制冷效率,降低能耗。同時,具備完善的過載保護、低壓報警機制,確保設備穩定運行。



四、加濕系統

配備智能濕度調控系統,濕度調節范圍 25% RH - 95% RH,控制精度 ±3% RH。通過超聲波霧化加濕,結合分子篩除濕技術,實現精準濕度控制。溫濕度傳感器實時監測,智能算法自動調節,滿足電子元件高濕、低濕測試場景。
五、工作原理
采用兩箱式結構,高溫箱與低溫箱獨立運行。測試時,電子元件置于測試箱,通過快速切換高溫、低溫氣流通道,實現冷熱沖擊。系統運用模糊 PID 控制算法,根據溫度變化實時調整輸出功率,在保證測試精度的同時,降低能耗,高效完成電子元件的可靠性測試。



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