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小角X射線散射是一種區別于X射線大角(2θ從5～165)衍射的結構分析方法。小角X射線散射(SAXS)是指當X射線透過試樣時，在靠近原光束2°～5°的小角度范圍內發生的散射現象。
小角X射線散射被越來越多地應用于材料微觀結構研究，其研究趨勢逐年增長。小角X 射線散射技術被用來表征物質的長周期、準周期結構、界面層以及呈無規則分布的納米體系；還可用于金屬和非金屬納米粉末、膠體溶液、生物大分子以及各種材料中所形成的納米級微孔、合金中的非均勻區(GP區)和沉淀析出相尺寸分布的測定；對非晶合金加熱過程的晶化和相分離的小角X射線散射研究已引起學者的關注。下面將介紹小角X射線散射技術在材料研究中的應用。
一、在無機材料中的應用
1.納米顆粒
小角X射線散射技術被廣泛用來測定納米粉末的粒度分布，其粒度分析結果所反映的既非晶粒亦非團粒，而是一次顆粒的尺寸。在測定中參與散射的顆粒數一般高達數億個，因此，在統計上有充分的代表性。
2.金屬的缺陷
金屬經輻照或從較高溫度淬火產生空位聚集，會引起相當強的小角散射。由于粒子體系和孔洞體系是互補體系，二者產生的散射是相同的。
3.合金中的析出相
早在1938年，Guinier就已經用小角X射線散射技術研究合金中的非均勻區(現稱作GP區)，揭示了一些亞穩分解產物。如今小角X射線散射技術被越來越多地用于合金時效過程的研究，從而進行相變動力學研究等。
4.非晶合金
非晶合金也稱金屬玻璃，它是急冷得到的亞穩定合金，在加熱過程中會產生一系列的轉變，逐漸由亞穩態轉變到穩定態。在這個過程中會發生相分離以及晶化過程。已有許多學者利用小角X射線散射技術來研究非晶合金中的這些轉變。
二、在高分子材料中的應用
在天然的和人工合成的高聚物中，普遍存在小角X射線散射現象，并有許多不同的特征。
小角X射線散射在高分子中的應用主要包括以下幾個方面：①通過Guinier散射測定高分子膠中膠粒的形狀、粒度以及粒度分布等；②通過Guinier散射研究結晶高分子中的晶粒、共混高分子中的微區(包括分散相和連續相)、高分子中的空洞和裂紋形狀、尺寸及分布等；③通過長周期的測定研究高分子體系中片晶的取向、厚度、結晶百分數以及非晶層的厚度等；④高分子體系中的分子運動和相變；⑤通過Porod-Debye相關函數法研究高分子多相體系的相關長度、界面層厚度和總表面積等；⑥通過絕對強度的測量，測定高分子的分子量。
1.結晶聚合物
所謂結晶聚合物，實際都是部分結晶，其結晶度一般在50%以下。小角X射線散射研究發現，高結晶度的線性聚乙烯、聚甲醛和聚氧化乙烯等聚合物的散射曲線尾部服從Porod定理，表明近似于理想兩相結構。但是，大多結晶度較低聚合物的散射曲線顯示出尾部迅速降低，偏離Porod定理，表明晶相與非晶相之間存在過渡層。
2.離聚體
離聚體是指共聚物中含有少量離子的聚合物。由于高分子鏈存在著離子化的側基，可形成離子聚合體，從而使此類聚合物具有*的結構和性能。小角X射線散射技術還可用于嵌段共聚物、膠體高分子溶液以及生物大分子等研究領域，用來測量分子量、粒子旋轉半徑以及形變和取向等 。
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