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【儀器網 行業應用】X射線衍射儀是利用X射線的衍射現象來測量樣品分子三維立體結構或特征X射線衍射圖譜的檢測分析儀器，廣泛應用于薄膜分析、樣品質地評估、晶相和結構監測、樣品應力和應變研究等不同的領域。
X射線衍射儀的基本原理：
晶體可以作為 X 射線的空間衍射光柵，即當一束 X 射線通過晶體時將發生衍射，衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱，體現在X射線衍射圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。通過分析X射線衍射圖譜就可以測定物質的晶體結構。
X射線衍射儀的應用：
1.物相分析
每一種晶體物質和它的衍射花樣都是一一對應的，不可能有兩種晶體給出*相同的衍射花樣。隨著XRD標準數據庫的日益完善，將樣品的XRD譜圖與標準譜圖進行對比就可以確定樣品的物相組成。
2.測定點陣常數
點陣常數是晶體物質的基本結構參數。通過X射線衍射線的位置(θ )的測定可以獲得點陣常數，通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數值。
3.測定晶粒尺寸和點陣畸變
純譜線的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及晶體點陣中的主要缺陷決定，故對線形作適當分析，原則上可以得到上述影響因素的性質和尺度等方面的信息。
X射線衍射儀的使用范圍：
金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；
無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；
復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；
有機材料：醫藥品、工程塑料、各種樹脂等。
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