X射線衍射(簡稱XRD)是一種分析技術,可提供有關晶體材料的結構和相ID的信息。XRD可用于識別單晶并揭示其結構。XRD在地質行業中非常好用,因為它可以用于識別混合物中存在的晶體,例如巖石中的礦物。對于具有可變分子式和結構的礦物(例如粘土),XRD是識別它們并確定其在樣品中比例的適合方法。
那么,XRD是如何工作的?這篇文章將深入探討XRD背后的科學,解釋奧林巴斯便攜式XRD分析儀的工作原理。
01 X射線衍射(XRD)背后的科學
在XRD分析過程中,將X射線束射向樣品,并根據出射方向測量散射強度。按照慣例,入射光束方向和出射光束方向之間的角度稱為2θ或2-theta。
入射和出射光束方向之間的角度稱為2θ(2-Theta)
對于由間距為d的電荷組成的簡單的樣本,當滿足布拉格定律時,觀察到相長干涉(ConstructiveInterference)(更大的散射強度)為:nλ= 2dsin θ。
02 XRD技術實踐
XRD儀器(例如我們的新一代TERRA II和BTX III XRD分析儀)使用該技術直接在分析儀上為主要和次要組分提供快速、可靠的實時礦物學和相分析。
奧林巴斯XRD衍射儀還采用了一種*的方法來快速,輕松地收集和處理XRD數據,這使得我們的XRD分析儀非常緊湊和便攜。
BTX III臺式XRD分析儀(左)和TERRAII便攜式XRD分析儀(右)
以緊湊,輕巧的設計提供準確的X射線衍射分析功能
03 奧林巴斯XRD的工作原理
常規的基于測角儀的XRD儀器使用反射幾何技術來處理XRD數據。因此,儀器很大,具有許多活動組件,并且經常需要外部冷卻。另一個缺點是它們需要大量樣品進行分析。這些限制意味著XRD分析始終需要在實驗室中進行。
我們的工程師采用*的透射幾何方法使XRD得到發展,使X射線光束穿過樣品。
1.微聚焦X射線管 2.X射線束 3.準直器 4.樣品 5.CCD檢測器
奧林巴斯使用*的傳動幾何XRD方法
這種方法不需要活動組件,使我們能夠設計出世界上商用電池驅動的便攜式XRD。我們的XRD儀器提供便攜性和易用性的同時,僅需要15 mg樣品即可進行分析。
將樣品封入樣品室后,我們的XRD分析儀將使用一種稱為粉末液化的顆粒隨機化方法。通過這種方法,我們的分析儀對樣品施加恒定的壓電感應頻率,使粉末從上到下對流并繞其軸旋轉。
在30秒內,樣品窗口中的每個粒子將以所有可能的方向穿過X射線束。因此,我們的XRD儀器實現了100%隨機化,這是實現準確X射線衍射關鍵的一步。
04 如何快速、輕松地實現定量礦物學
奧林巴斯致力于使XRD分析盡可能簡單,因此我們的客戶可以快速,輕松地獲得定量的礦物學結果。僅僅需要幾個步驟:
> 準備樣品(了解有關簡單樣品制備步驟的更多信息,請聯系工程師)
> 開始測試,分析儀將X射線穿過窗口中對流的樣品
> X射線轟擊樣品并在2θ角度范圍內衍射
> CCD檢測器測量衍射信息
>內置于分析儀的自動相識別和定量軟件SwiftMin®實時、直觀地將相ID和定量結果顯示在用戶界面
SwiftMin ®軟件用戶界面
05 常見的XRD應用
XRD可以應用于多個行業,提供簡單、直接的相分析。常見的XRD應用包括:
地質勘探
礦業開采
油氣錄井
制藥
學術研究
太空探索
06 Olympus XRD分析儀的3個*的硬件特性
除了省時的軟件和簡單的樣品前處理,奧林巴斯XRD還采用*的硬件組件并進行了工程設計,使儀器異常可靠、準確:
2D X射線衍射計
許多XRD儀器都使用X射線檢測器只在一個平面或一維實驗中捕獲來自樣品的光子。奧林巴斯基于CCD的XRD分析儀可以收集衍射圓環的切片,以幫助用戶了解樣品的制備方法是否正確(顆粒統計信息和/或晶體的優選取向)。這些信息可以幫助確認定量數據的準確性和代表性。
能量鑒別型X射線探測器
較大的常規XRD儀器通常不能使用能量鑒別型探測器。因此,探測器會受到XRD實驗中未使用的光子的影響。另一方面,奧林巴斯XRD分析儀可以去除不直接參與XRD實驗的光子,例如X射線熒光光子,從而提供更好的信噪比。
鈷或銅靶材可選
奧林巴斯XRD儀器標配有堅固的鈷(Co)靶材X射線管。該陽極非常適合分析高鐵含量的樣品,因此是地質學家和礦物學家優選的陽極。但是某些應用(例如分析高錳含量)需要銅(Cu)靶材X射線管。奧林巴斯可以提供任一陽極,因此可以根據客戶的應用需求選擇適合陽極。
通過以上詳細講解,大家對奧林巴斯XRD分析儀的工作原理和產品特性都有了一定的了解,XRD不僅在地質行業有著出色的表現,在其他材料的研究中同樣具有非常重要的應用。隨著XRD標準數據庫的日益完善,XRD物相分析會變得越來越簡單。
免責聲明
- 凡本網注明“來源:儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。
2025廣州國際分析測試及實驗室設備展覽會暨技術研討會
展會城市:廣州市展會時間:2025-03-05