哈科光學(xué)影像測量儀由北京哈科研發(fā)生產(chǎn)制造，該儀器適用于以二座標(biāo)測量為目的一切應(yīng)用領(lǐng)域如：品質(zhì)檢測、工程開發(fā)、繪圖等用途。方便測量前角、后角、螺旋角、齒隙角等*角度，還可以進行基本幾何測量（圓直徑、長度、刃寬、芯厚、粗糙度等）。
相對于其他產(chǎn)品系列比較而言，該系列具有結(jié)構(gòu)簡單、承載能力強、工件放置空間開闊、裝卸便捷等特點。

哈科光學(xué)影像測量儀由北京哈科研發(fā)生產(chǎn)制造，哈科光學(xué)影像測量儀適用于以二座標(biāo)測量為目的一切應(yīng)用領(lǐng)域如：品質(zhì)檢測、工程開發(fā)、繪圖等用途。方便測量前角、后角、螺旋角、齒隙角等*角度，還可以進行基本幾何測量（圓直徑、長度、刃寬、芯厚、粗糙度等）。

相對于其他產(chǎn)品系列比較而言，該系列具有結(jié)構(gòu)簡單、承載能力強、工件放置空間開闊、裝卸便捷等特點。

1. 型號規(guī)格：HK-JM-7560
2. 主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1測量范圍：X=250mm，Y=150mm，Z=200mm

2.2金屬臺尺寸(mm): 450×280

2.3玻璃臺尺寸(mm): 306×196

2.4外型尺寸L*W*H：X=760mm，Y=660mm，Z=900mm

2.5儀器重量：120kg

2.6 X.Y坐標(biāo)示值誤差≤(3+L/75)μm(L為被測長度單位:mm)

2.7分辨率：0.001mm

2.8大承受重量：30kg