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F型 激光系列產品-Hi-Q光學測試測量系統

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美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統提供了*自動化地測量連續激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統能夠快速地測量激光相位噪聲,評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。

該系統在寬帶測量方面是它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統操作簡單、方便、快速、精度高,且無需附加額外的測試設備。

詳細信息 在線詢價

美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統提供了*自動化地測量連續激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統能夠快速地測量激光相位噪聲,評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。

該系統在寬帶測量方面是不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統操作簡單、方便、快速、精度,且無需附加額外的測試設備。這的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴展到不同的輸入波段,并用于低相對強度噪聲測量。

 

特點

超低相位/頻率噪聲測量

快速實時測量

即刻和擴展的FWHM線寬分析

需要低噪聲參考光源

用戶友好界面

簡單的基于PC的操作

? 3U x 19英寸機架系統

可定制的配置、升級和選項

 

光學測試測量系統

型號

OE4000

波長

1530 – 1565 nm

動力學范圍

60dB

光學輸入功率范圍

+5 to +15 dBm (PM-FC/APC)

測量類型

頻率噪聲/零差相位

數據存儲與I/O

HDD / USB端口

帶寬分辨率

0.1 Hz – 200 kHz

電源電壓

110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz

光學測試測量系統尺寸

3U x 19英寸機架式

低或高輸入功率范圍

可選

波長范圍(可選)

740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm)

(選擇多波長范圍以及定制波長范圍請咨詢)

 

可選擇的配置

630 nm  -  2200 nm范圍內多個輸入波段

超低噪聲基底

相對強度噪聲測量

擴展的偏移頻率范圍可達2 GHz

擴展的輸入功率范圍

遠程操作

性能和頻率

定制范圍選擇和升級

 


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