應用
手動或自動進行半導體高分辨率DC參數測量
來料檢查
生產測試
過程監視及質量控制
數據報告的生成
元件配對
失效分析
工程測試
交互式程控
主要參數:
·半導體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源(370A)
-上限到3000V(371A)
-上限到220W(370A)
-上限到400A(371A)
-1nA的測量分辨率
-上限到3000W(371A)
·上限到2mV的測量分辨率(370A)
·波形對比
·包絡顯示
·波形平均
·點光標(370A)
·Kelvin傳感測量
·全程控
·MS-DOS兼容的軟盤,方便設置參孝存儲和調用
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