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MarSurf XCR 20輪廓粗糙度儀

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MarSurfXCR20測量粗糙度和輪廓可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和輪廓測量

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MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和輪廓測量。根據(jù)測量任務(wù),可使用 GD 25 驅(qū)動裝置進(jìn)行表面粗糙度測量,或使用 PCV 驅(qū)動裝置進(jìn)行輪廓測量。兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。
產(chǎn)品特點(diǎn):
節(jié)省空間型設(shè)計:兩個驅(qū)動裝置可使用相應(yīng)的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統(tǒng)對組件進(jìn)行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和的分辨率
只需在軟件平臺內(nèi)進(jìn)行切換并更換驅(qū)動裝置和測頭等機(jī)械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量
技術(shù)參數(shù):
接觸速度(Z 方向):   0.1 至 1 mm/s 
測桿長度:             175 mm, 350 mm 
測量速度(文本):     0.2 mm/s 至 4 mm/s 
針尖半徑:                   25 
掃描長度末尾(X 方向):   200 mm 分辨率Z 方向,相對探針針頭:0.38 μm(350 mm 測桿)/ 0.19 μm(175 mm 測桿)
Z 方向,相對測量系統(tǒng):0.04 μm 
掃描長度開始(X 方向):   0.2 mm 
取樣角:                  在平滑表面上,取決于偏差:后緣高至 88°,前緣高至 77° 


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