Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機FormtracerSV-C3200/4500525系列—表面粗糙度和輪廓測量系統通過更換檢測器,一臺機器上能測量表面粗糙度和輪廓形狀的一體型測量機,同時能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機
Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和輪廓測量系統
通過更換檢測器,一臺機器上能測量表面粗糙度和輪廓形狀的一體型測量機 ,同時能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機 。
產品特點 |
? Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。 | |
? X軸內置玻璃光柵尺,直接讀取X軸移動距離,在定位下,完成間距參數的評價。 | |
? 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。 | |
? Z1軸(檢出器)上配有弧形光柵尺和測臂。弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實現精度和分辨力。與其他型號相比,測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件,單此接觸就能完成測臂的裝卸,提高了易用性。 | ? 為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統的功能。 裝配雙錐面測針,實現垂直方向(上/下)連續測量,所獲取的數據實現測量內螺紋有效直徑。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。不用調整配重。 |
?表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序,通過簡單的操作就能進行分析并即刻輸出結果。 | |
? 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起,節省安裝空間。 | |
? 測臂安裝為一鍵式裝卸 測臂安裝部采用了磁性連接件,實現了較快速更換。此外,裝卸部內置了安全結構。 |
產品規格 |
貨號 | SV-C3200S4 | SV-C3200H4 | SV-C3200W4 | SV-C3200S8 | SV-C3200H8 | SV-C3200W8 | |
SV-C4500S4 | SV-C4500H4 | SV-C4500W4 | SV-C4500S8 | SV-C4500H8 | SV-C4500W8 | ||
測量表面粗糙度時 | |||||||
測量范圍 | X 軸 (驅動部) | 100mm | 200mm | ||||
Z1 軸 (檢出器) | 800μm/80μm/8μm | ||||||
直線度 | (0.05+L/1000) μm L: 驅動長度 (mm) | 0.5μm/200mm | |||||
分辨力 | Z1軸(檢出器) | 0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm) | |||||
測力 | 0.75mN (機身代碼末尾帶 “-1”的型號) 4mN (機身代碼末尾帶“-2”的型號) | ||||||
測針針尖形狀 | 60o, 2μmR (機身代碼末尾帶 “-1”的型號) 90o, 5μmR (機身代碼末尾帶 “-2”的型號) | ||||||
對應尺寸 | JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA | ||||||
評價參數 | Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q, Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW | ||||||
評價輪廓 | 原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動圓波形原始輪廓、滾動圓波形 輪廓、包絡殘余線、DF 輪廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包絡波紋輪廓在評 價MOTIF 時顯示) | ||||||
分析圖 | 負荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關、峰分布、 傾斜角分布、參數分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析) | ||||||
曲線補償 | 平方直線、R 面補償、橢圓補償、拋物線補償、雙曲線補償、二次曲線補償、多項式 補償(自動或任意2~7 次)、無補償 | ||||||
濾波器 | 高斯濾波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器 | ||||||
輪廓測量 | |||||||
測量范圍 | X軸(驅動部) | 100mm | 200mm | ||||
Z1軸(檢出器) | 60mm (測臂水平位置±30mm) | ||||||
直線度 | 0.8μm/100mm | 2μm/200mm | |||||
精度 | X軸(驅動部) | ±(0.8+0.01L)μm L: 驅動長度 (mm) | ±(0.8+0.02L)μm L = 驅動長度 (mm) | ||||
Z1軸(檢出器) | SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm H: 水平位置上的測量高度 (mm) | ||||||
分辨力 | X軸(驅動部) | 0.05 μm | |||||
Z1軸(檢出器) | SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm | ||||||
Z2軸(立性) | 1 μm | ||||||
測力 | SV-C3200 系列: 30mN (可調使用重量) SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根據軟件轉換) | ||||||
側頭方向 | SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下單獨測量) SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根據配重調整) | ||||||
通用時 | |||||||
Z2軸 (立柱) 移動量 | 300mm | 500mm | 300mm | 500mm | |||
X 軸傾斜角度 | ±45o | ||||||
驅動速度 | X 軸0 | 0 - 80mm/s 外加手動 | |||||
Z2 軸 (立柱) | 0 - 30mm/s 外加手動 | ||||||
測量速度 | 0.02 - 5mm/s |
產品選件 |
Y 軸工作臺:178-097 | |
對多個排列工件和同一測量面上的多點進行自動測量。 | |
旋轉工作臺 q1 軸:12AAD975* | |
提高軸向/ 橫向上的測量效率。當測量一個圓筒形工件時,與Y 軸臺相配合進行自動調準。 * 當直接安裝在SV-3100 主機工作臺上使用時,需要另行選購q1 軸安裝板(12AAE630)。 | |
旋轉工作臺q2 軸組件:178-078* | |
可實現自動測量圓柱形狀測量工件的多處、正反兩面。 * 如想直接安裝在SV-3100 主機工作臺上使用,需要另行選購q2 軸安裝板(選配 : ***2AAE718) | |
定心(滾花環固定) :211-032 | 微型快速卡盤:211-031 |
測量小型物件時,采用滾花環達到固定的目的。 | 采用它可以固定小直徑的工件。 |
自動調水平工作臺:178-087 | |
當測量開始后,它可以自動調整水平。此外,操作簡單和可靠。 | |
其他選件 |
檢測器●測針
檢測器 | 接頭 |
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