MXY4000-13連續光學傳遞函數測量儀一、產品介紹：為了測量傳遞函數,因連續可變的條紋間隙所產生的干涉圖可用作可撓光的圖靶

MXY4000-13 連續光學傳遞函數測量儀

一、產品介紹： 

     為了測量傳遞函數,因連續可變的條紋間隙所產生的干涉圖可用作可撓光的圖靶。精確靶的產生,正弦,或方形波,或用在光學部件的躍變對于評定部件的調制傳遞函數和相位傳遞函數都是必須；光學系統的成像過程研究和像質評價是光學信息處理的重要內容。而基于頻譜分析方法和線性系統的光學傳遞函數，通過表征光學系統對不同空間頻率的目標的傳遞性能，能客觀有效地分析整套光學系統的信息傳遞性能，因而廣泛應用于光學設計和光學檢驗，對連續空間頻率的傳遞函數進行測量。

二、實驗內容：

1、理解衍射受限系統和光學傳遞函數的基本理論

2、了解線擴散函數及其在光學傳遞函數測量中的作用

3、掌握傳遞函數的測量和像質評價的基本方法

4、了解衍射受限系統鏡頭參數對比光學傳遞函數的影響

三、配置和參數：

1、光源：溴鎢燈

2、CCD攝像機：1/3”，420TVL,0.2lux,電源12VDC

3、圖像采集卡：分辨率：640*480*16

4、毛玻璃：80mm*80mm

5、狹縫：縫寬0-2mm連續可調，可做5度旋轉

6、其他：導軌，滑座，干版架等