性能指標(biāo)：
1、X-射線光源: 采用高強(qiáng)度微聚焦旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極光源，Cu靶，功率2.5K W，管電壓50kV，管電流50mA 2、測(cè)角儀：四軸（Kappa,ω，2θ，φ）測(cè)角儀，?360°旋轉(zhuǎn) ≤0.02°步長(zhǎng); ?/2? 步長(zhǎng)≤0.002°；角度重現(xiàn)性±0.0001° 3、探測(cè)器：大面積photon II探測(cè)器，探測(cè)器有效面積14cm×10cm,探測(cè)器到樣品的距離馬達(dá)自動(dòng)可調(diào)
主要應(yīng)用：
1、精確測(cè)定小分子無(wú)機(jī)物、有機(jī)物、配合物以及蛋白質(zhì)大分子等晶態(tài)物質(zhì)的三維空間結(jié)構(gòu)(包括鍵長(zhǎng)、鍵角、構(gòu)型、構(gòu)象乃至成鍵電子密度)及分子在晶格中的實(shí)際排列狀況 2、可提供晶體的晶胞參數(shù)、所屬空間群、晶體分子結(jié)構(gòu)、分子間氫鍵和弱作用的信息以及分子的構(gòu)型及構(gòu)象等結(jié)構(gòu)信息。 3、晶體X-射線衍射數(shù)據(jù)收集、數(shù)據(jù)處理（還原、校正）、晶體結(jié)構(gòu)解析、分子圖、分子堆積圖繪制等。
樣品要求：
1、送檢樣品必須為單晶
2、晶體要求表面光潔、顏色和透明度一致
3、單晶表面不附著小晶體，沒(méi)有缺損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷
4、晶體長(zhǎng)、寬、高的尺寸均為0.1 ~ 0.4mm ，即晶體對(duì)角線長(zhǎng)度不超過(guò)0.5 mm（大晶體可用切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力）
5. 晶體質(zhì)量好，可測(cè)無(wú)機(jī)晶體，有機(jī)晶體以及MOF
6. 有機(jī)和MOF類(lèi)單晶，在送樣時(shí)，應(yīng)放在母液中，一起寄出
7. 若要解析結(jié)構(gòu)，應(yīng)提供分子式以及結(jié)構(gòu)式
收費(fèi)說(shuō)明：測(cè)試不出來(lái)不收費(fèi)；如果我們測(cè)出來(lái)不是你想要的產(chǎn)物，是要正常收費(fèi)的，針對(duì)這點(diǎn)，如果不清楚的，可以先掃一個(gè)晶胞參數(shù)看下。后期不收數(shù)據(jù)了，我們會(huì)收取一個(gè)晶胞的費(fèi)用。
