AMTEK公司專門從事納米測量和分析設備的防振系統，于2007年成功地將韓國的個主動防振系統商業化。
該系統可以靈活地應用于所有類型的納米測量和分析設備，以幫助您獲得最準確的結果。
一、概述
激光-光學測量是一個微妙的過程，要求一致性、精確性和隔振能力.測量要求在隔離地板振動的同時，保持光學零件的精確和一致的位置。這就要求光學面包板的動態剛度和有效的減振系統本身。
在10 Hz以下的低頻范圍內隔離振動輸入，VAIS-PT將提供的、穩定的光-激光測試環境。
二、技術優勢
1）氣動支架
氣動支撐架進一步增強了VAIS-PT對非周期脈沖振動的穩定性.
2）Floor Feed-Forward控制
利用feedback和floor feed-forward 控制，VAIS-PT具有很好的防止建筑物結構共振引起的低頻振動干擾的能力。
3）LED狀態指示燈
前面板上有三盞LED燈(紅色、綠色、藍色)，可方便地顯示振動狀態、環境變化和使用性能。
4）數字控制系統
該數字控制器提供了方便的用戶界面、設置參數修改和系統診斷。
5）遠程支持
AMTEK為方便的性能診斷和技術支持提供了遠程實時支持。
支撐架 | 氣動（壓縮空氣）彈簧 |
控制頻率范圍 | 0.5Hz~1000Hz |
光學top | 蜂窩芯面板頂 |
可控制的自由度 | 3軸6自由度（全主動系統） |
驅動力 | 垂直方向：15N；水平方向：10N |
應用控制器 | Feedback & Floor Feed-Forward |
高度調節 | 3個機械閥門自動調節 |
所需氣壓 | 超過0.5MPa |
輸入電壓 | AC 90~230V/50~60Hz |
三、規格
型號名稱 | 面板尺寸 | 型號名稱 | 面板尺寸 |
PT-1010(M/I/N)-100 | 1000(W)x1000(L)x100(T) | PT-1812(M/I/N)-200 | 1800(W)x1200(L)x200(T) |
PT-1210(M/I/N)-100 | 1200(W)x1000(L)x100(T) | PT-2010(M/I/N)-200 | 2000(W)x1000(L)x200(T) |
PT-1212(M/I/N)-100 | 1200(W)x1200(L)x100(T) | PT-2012(M/I/N)-200 | 2000(W)x1200(L)x200(T) |
PT-1510(M/I/N)-100 | 1500(W)x1000(L)x100(T) | PT-2410(M/I/N)-200 | 2400(W)x1000(L)x200(T) |
PT-1512(M/I/N)-100 | 1500(W)x1200(L)x100(T) | PT-2412(M/I/N)-200 | 2400(W)x1200(L)x200(T) |
1）可根據要求定制尺寸；
2) 型號選擇指南: PT-WD(M/N)-T；
**** wd:光學面包板寬度(W)x長度(D)[mm]。
**** M/I/N:安裝孔型-M(公制)/I(英寸)/N(無孔)。
**** T:面包板厚度單位為[mm]。
3) 面包板的標準厚度: 50-300[mm]；
4)對于寬度大于1500mm的面包板,我們建議厚度為至少大于200mm。
四、性能
主動隔振框架的隔振性能
共振范圍（>1Hz） | 不存在 |
頻域的隔離效果 | |
2Hz | -15dB（70% 隔離） |
5Hz | -30dB（85%隔離） |
10Hz | -35dB~-40dB（99%隔離） |
20Hz~ | -35dB~-40dB（99%隔離） |
五、應用展示
1）應用指南
(1) 在激光光學實驗中，光學元件在光面上的精確和一致的位置是至關重要的。然而，考慮振動輸入的幅值和特性的抗振系統卻很少引起人們的興趣.
(2) 光學支撐架的選擇對激光光學實驗的組成和精度至關重要。氣動被動隔震系統對低頻振動的隔離效果不如高頻隔振系統.
(3) VAIS-PT是專門為激光光學實驗開發的。光學面包板的設計考慮了剛度、平整度和可重復性，氣動主動隔離系統隔離了所有頻率的振動。
2）可配套使用的儀器
（1）激光光測量儀器
（2）AFM-Raman系統儀器
（3）干涉儀儀器
（4）精密測量與分析儀器
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