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高溫反偏老化試驗系統(HTGB/HTRB/H3TRB)適用范圍:適用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、軸向、徑向等各種封裝分立器件進行高溫反偏試驗:如各種二極管、三極管、場效應管、可控硅、橋堆等。
產品關鍵詞:高溫反偏老化試驗箱,光電子器件老化系統,電容器高溫老化系統,高溫高濕偏置試驗系統,光電耦合器專用設備,發光二極恒流高溫電流壽命試驗,大功率晶體管老化系統,IGBT模塊功率循環試驗系統,集成電路高溫動態老化系統、DC/DC模塊高溫老化系統、三端穩壓器高溫壽命老化系統、高溫反偏老化系統、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件綜合老化系統、二極管恒流老化系統、二極管全動態老化系統、OPLIFE、功率循環、IGBT功率循環老化系統、LED老化系統、電容器高溫老化系統、可控硅老化系統、老化板、老化測試座、試驗電源 等等
容量
試驗電源
驅動檢測板
老化板
整機信息
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