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半導(dǎo)體行業(yè)溫度循環(huán)TC

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溫度循環(huán)TC試驗又名高低溫沖擊試驗是半導(dǎo)體元器件元器件行業(yè)的測試設(shè)備

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溫度循環(huán) TC試驗又名高低溫沖擊試驗是半導(dǎo)體元器件元器件行業(yè)的測試設(shè)備。在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,用于考核器件在短期內(nèi)反復(fù)承受溫度變化(循環(huán)流動的空氣)的能力及不同膨脹系數(shù)材料之間的熱匹配性能。


滿足標準:
GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 1.1
GB/T 2423.22-2012 7

主要技術(shù)參數(shù):

設(shè)計和技術(shù)參數(shù)(TCT系列)
型號 LS-TCT-401 LS-TCT-402 LS-TCT-403 LS-TCT-501 LS-TCT-502 LS-TCT-503 LS-TCT-601 LS-TCT-602 LS-TCT-603
箱體設(shè)計
提籃容積(升) 27 64 125 27 64 125 27 64 125
試驗箱內(nèi)箱容積尺寸
(mm)
寬(W) 300 400 500 300 400 500 300 400 500
高(H) 300 400 500 300 400 500 300 400 500
深(T) 300 400 500 300 400 500 300 400 500
試驗箱外箱尺寸
(mm)
寬(W) 1180 1280 1380 1180 1280 1380 1180 1280 1380
高(H) 1850 1950 2050 1850 1950 2050 1850 1950 2050
深(T) 180 190 2000 180 190 2000 180 190 2000
溫度試驗參數(shù)
溫度范圍
熱箱
+80~200 +80~200 +80~200
溫度范圍
冷箱
-10~-60 -20~-70 -30~-80
測試溫度范圍 -40~+150 -55~+150 -65~+150
溫度波動度 ±0.5~1.0
溫度均勻度 ±0.5~2.0
升溫平均速率1 /min 3~5
降溫平均速率2 /min 1
熱箱冷箱轉(zhuǎn)換時間 sec <10
恢復(fù)時間 min <15
校準值
熱箱1
125 125 150
校準值
冷箱2
-40 -55 -65
冷卻方式 水冷或風(fēng)冷





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