MARSURFVD280粗糙度和輪廓測量站MarSurfVD系列-補充MarSurf系列:粗糙度和輪廓跟蹤系統之間方便更換操作員可根據測量任務更換測量表面粗糙度的BFW粗糙度測頭系統,或測量輪廓的C11輪廓測頭系統(可熱插拔)
MARSURF VD 280 粗糙度和輪廓測量站
MarSurf VD 系列 - 補充 MarSurf 系列:
粗糙度和輪廓跟蹤系統之間方便更換
操作員可根據測量任務更換測量表面粗糙度的 BFW 粗糙度測頭系統,或測量輪廓的 C 11 輪廓測頭系統(可熱插拔)。新系統的優勢是結合了高度靈活的 C 11 輪廓測頭系統和高精密 BFW 測頭系統,特別適合精細表面。
新測量站概念綜合了速度、可靠性和靈活性。
其目標是提高貴公司系統的利潤。
測量站使用用戶友好的 MarWin 軟件操作(MarWin Easy Roughness & Contour 或 MarWin Professional Roughness & Contour)。
創新的技術:
快速測軸
MarSurf VD 280 | MarSurf VD 140 | |
測量速度 | 10 mm/s | 10 mm/s |
掃描長度末尾(X 方向) | 280 mm | 140 mm |
掃描長度開始(X 方向) | 0 mm | 0 mm |
導塊偏差 | 0.07 µm / 20 mm(帶測頭系統 BFW 250) 0.35 µm / 60 mm 0.4 µm / 140 mm | 0.07 µm / 20 mm(帶測頭系統 BFW 250) 0.35 µm / 60 mm 0.4 µm / 140 mm |
定位速度 | 0.02 - 200 mm/s (X) | 0.02 - 200 mm/s (X) |
測量范圍 mm | 帶測頭系統 BFW 250 500 µm (±250 µm),用于 45 mm 測針長度 1500 µm (±750 µm),用于 135 mm 測針長度 帶測頭系統 C 11 70 mm,測桿長 350 mm 100 mm,測桿長 490 mm | 帶測頭系統 BFW 250 500 µm (±250 µm),用于 45 mm 測針長度 1500 µm (±750 µm),用于 135 mm 測針長度 帶測頭系統 C 11 70 mm,測桿長 350 mm 100 mm,測桿長 490 mm |
測量速度 | 0.1 mm/s 至 5 mm/s; 用于粗糙度測量 建議 0.1 mm/s 至 0.5 mm/s |
掃描長度末尾(X 方向) | 130 mm |
分辨率 | 2 nm |
掃描長度開始(X 方向) | 0.1 mm |
定位速度 | 0.1 mm/s 至 30 mm/s |
測頭 | 標準測頭 LP-D 14-10-2/60 度 |
測量范圍 mm | 10 mm(100 mm 測桿) 20 mm(200 mm 測桿) |
輪廓分辨率 | 2 nm |
掃描長度 | 0.1 mm 至 130 mm |
測量力 (N) | 1 mN 至 30 mN,可軟件調整 |
測量速度 | 0.02 mm/s 至 10 mm/s; 粗糙度測量 推薦 0.1 mm/s 至 0.5 mm/s |
掃描長度末尾(X 方向) | 130 mm |
分辨率 | 0.8 nm |
掃描長度開始(X 方向) | 0.1 mm |
定位速度 | 0.02 mm/s 至 200 mm/s |
測量范圍 mm | 13 mm(100 mm 測桿) 26 mm(200 mm 測桿) |
掃描長度 | 0.1 mm - 130 mm |
測量力 (N) | 0.5 mN 至 30 mN,軟件可調 |
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