NIKON日本尼康XT V 160 - X射線檢測系統
NIKON日本尼康XT V 160 - X射線檢測系統
XT V 160：電子檢測用納米技術（NanoTech） X射線系統
XT V 160也被稱為Revolution，是利用X-Tek 20年納米級焦點X射線技術方面的經驗研制開發的產品。
該系統提供了一個結構緊湊的系統內可能獲得的zui高分辨率和放大倍數，非常適用于生產線上和故障分析實驗室內電子零部件的檢測。
XT V 160是一款通用工具，使操作人員很方便地利用該系統的手動和編程檢測功能。zui為重要的是，它可用于計算機斷層掃描CT檢測，根據其完整的三維圖像，重構該試樣。
設計用于* BGA和μBGA 檢測，多層板檢測和PCB焊接點檢測，XT V 160 X射線檢測系統是一個使用簡便，分辨率高和成本低廉的檢測解決方案，是檢測實驗室*的骨干設備。
XT V 160 檢測優點
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