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安東帕AFM原子力顯微鏡如何提高測量效率

來源:安東帕(上海)商貿有限公司   2020年05月13日 14:34  

AFM原子力顯微鏡的基本原理是:將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定,另一端有一微小的針尖,針尖與樣品表面輕輕接觸,由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力,通過在掃描時控制這種力的恒定,帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法,可測得微懸臂對應于掃描各點的位置變化,從而可以獲得樣品表面形貌的信息。

安東帕是一家成熟的開發商、生產商和經銷商,主要經營工業用高精度實驗儀器和加工測量系統,現在推出一款專為工業用戶設計、滿足各種需求的 AFM 產品 Tosca 400。它將先進技術與簡單易用的操作結合,使得這款 AFM 既適合工業用戶,也適合科學學工作者。自動化和工作流導向的控制分析軟件植入到機器的每個操作層級,進一步提高了效率并簡化AFM 測量操作。
 

現在安東帕提供快速安全更換探針的工具 —— Probemaster 工具。使用這種探針更換工具,原先復雜的探針操作將成為歷史。只需將探針放置在 Probemaster 標記區域的任何位置,即可將其輕松滑入驅動機構。無需再使用鑷子來定位細小的探針。由于有足夠的空間放置探針,所以經驗不足的用戶也可以輕松操作Probemaster。探針自動定位到驅動機構中,防止對昂貴探針的損壞。

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