結(jié)合飛納臺式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)，以較快、較簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進步。快速、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡，加上顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶檢驗、分析各 種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng)造了一個強大工具。

顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)

使用飛納臺式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)，以快速、 簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析。顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng) 支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

超越光學顯微鏡分析，*自動化的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)把 可視化分析提高到了一個新臺階，這將在粉末設(shè)計、開發(fā)和質(zhì)量控制中產(chǎn)生進一步的探索和創(chuàng)新。
 

柱狀圖、散點圖和生成的圖像可以選定格式導出，并生成報告。 所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數(shù)量分布或體積分布。

散點圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來，以揭示相關(guān)性和 趨勢。飛納電鏡的顆粒系統(tǒng)支持用戶獲得他們需要的數(shù)據(jù)。因此，顆粒系統(tǒng)加快了顆粒分析速度，提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

飛納臺式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)的主要優(yōu)點：

· 以 ProSuit 為運行平臺

· 直接從飛納臺式掃描電鏡中獲取圖像

· 識別并確認例如破損顆粒、附著物和外來顆粒

· 相關(guān)顆粒的特征，如直徑，圓度，縱橫比和凹凸度

· 便捷的操作提升了工作效率并使計劃安排簡單、可預(yù)測

· 可輕松存儲于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤，便于共享、交流或以后參考，采集圖像沒有限制

· 飛納臺式掃描電鏡的易用性和對環(huán)境的良好適應(yīng)力，使得 任何人都可借此直觀研究各種樣品

· 同時提供優(yōu)質(zhì)照片和海量統(tǒng)計結(jié)果
 

顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)的目標應(yīng)用領(lǐng)域：

· 化妝品行業(yè)

· 食品行業(yè)

· 化工行業(yè)

· 制藥行業(yè)

· 陶瓷

· 顆粒以及表面涂層

· 顆粒狀添加劑

· 環(huán)境顆粒

· 過濾器/篩網(wǎng)公司