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掃描電子顯微鏡的組成部分

2022年06月09日 08:52

　　掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope，SEM)簡稱為掃描電鏡，它是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析，可廣泛應用于材料、冶金、礦物、生物學領域。

　　一般來說，掃描電子顯微鏡由電子光學系統、信號收集和顯示系統、真空系統、電源系統組成。

　　1、電子光學系統

　　組成：電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件。

　　作用：獲得掃描電子束、作為產生物理信號的激發源。

　　2、信號收集和顯示系統

　　信號收集：二次電子和背散射電子收集器、吸收電子顯示器、X射線檢測器(波譜儀和能譜儀)

　　顯示系統：顯示屏有兩個，一個用于觀察，一個用于記錄照相。

　　3、真空系統

　　組成：機械泵、擴散泵

　　作用：保證電子光學系統正常工作，提供高真空度，防止樣品污染，保持燈絲壽命，防止極間放電。

　　4、電源系統

　　包括啟動的各種電源，檢測-放大系統電源，光電倍增管電源，真空系統和成像系統電源燈。還有穩壓、穩流及相應的安全保護電路。

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