1. XOS 公司介紹：
◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射線光學(xué)系統(tǒng)公司) 總部位于美國(guó)紐約州*Albany, 為丹納赫水質(zhì)平臺(tái)子公司。
◆ XOS®是一家應(yīng)用材料和元素分析設(shè)備供應(yīng)商，為重視控制材料質(zhì)量與性能的行業(yè)監(jiān)管部門和客戶提供擁有技術(shù)的分析設(shè)備。
◆ XOS公司擁有的研發(fā)和設(shè)計(jì)能力，與美國(guó)的眾多研究機(jī)構(gòu)有合作關(guān)系，曾經(jīng)參與了許多課題設(shè)計(jì)，包括美國(guó)宇航局的行星元素探測(cè)計(jì)劃（XRF方法）等。
◆ XOS擁有X射線光學(xué)技術(shù)，能夠幫助客戶將測(cè)量靈敏性提高百倍，減少測(cè)量時(shí)間，提高空間分辨率，縮小設(shè)備尺寸，并且節(jié)約設(shè)備成本。
◆ XOS公司的光學(xué)晶體應(yīng)用于大型波長(zhǎng)色散型XRF、微區(qū)聚焦XRF、掃描電鏡等X射線儀器。XOS公司與其他著名的XRF生產(chǎn)廠商都有合作，提供給它們光學(xué)聚焦晶體。
◆ XOS公司具備HDXRF的技術(shù)——DCC，也是目前一家擁有自己技術(shù)的XRF生產(chǎn)廠商，其他品牌XRF的核心部件——X光管、濾光片、準(zhǔn)直器等均為外購(gòu)。
◆ XOS公司在元素分析領(lǐng)域有著技術(shù)應(yīng)用，XOS公司與美國(guó)NASA下屬的JPL實(shí)驗(yàn)室合作，研發(fā)了一款用于2020火星計(jì)劃的XRF元素分析儀
2. 主要技術(shù)參數(shù)和優(yōu)點(diǎn)：
1) 采用DCC®（雙曲面彎晶技術(shù)），取代傳統(tǒng)的濾光片和準(zhǔn)直器，真正實(shí)現(xiàn)單色光激發(fā)樣品；
2) 檢測(cè)光斑1mm，適合測(cè)試不規(guī)則樣品和細(xì)小樣品；
3) 采用SDD硅漂移探測(cè)器，分辨率高，無(wú)需液氮冷卻；
4) 滿足美國(guó)ASTM F2853標(biāo)準(zhǔn)；
5) 可同時(shí)測(cè)試涂層與基材中的重金屬含量；
6) 采用基本參數(shù)法，可分析各類未知樣品；等等
美國(guó)XOS HD-Prime 臺(tái)式X射線熒光光譜儀
用于玩具和兒童用品
HD Prime用XOS*的高清晰光譜技術(shù)，測(cè)量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素，可測(cè)量出微量成份。HD Prime分析儀采用光學(xué)分析技術(shù)，可分別測(cè)出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份。這種分析技術(shù)可測(cè)量目前和將來(lái)由CPSIA規(guī)定的含量。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面，既能快速定性檢測(cè)，又能定量分析。性能價(jià)格比高。測(cè)量是非破壞性的，不需要費(fèi)錢耗時(shí)的樣品準(zhǔn)備，而且不會(huì)損壞被測(cè)商品，已備復(fù)查。高清晰光譜儀使負(fù)責(zé)產(chǎn)品安全的行業(yè)和政府管理部門能夠快速、方便地檢測(cè)產(chǎn)品。
檢測(cè)鉛和其它有毒元素
應(yīng)用領(lǐng)域
•玩具和兒童用品中多種有毒元素測(cè)量，符合CPSIA規(guī)定的要求
•快速定性定量分析有毒元素
•使用場(chǎng)合:工廠的生長(zhǎng)線上和實(shí)驗(yàn)室、第三方檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室、零售商、檢測(cè)部門
•符合ASTM F2853和F2617標(biāo)準(zhǔn)
性能和特點(diǎn)
•測(cè)定有毒元素（Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，and CI)
•HD Prime 可分別測(cè)出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份
•1mm小面積分析，能檢測(cè)不規(guī)則形狀
•使用方便，可供工廠、實(shí)驗(yàn)室使用，2小時(shí)培訓(xùn)
•不需要樣品準(zhǔn)備：無(wú)須剝離和浸煮涂層，從而不破壞產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
•定性檢測(cè)模式：提供有毒元素快速檢測(cè)
•定量檢測(cè)模式：確定涂層和基底材料中元素成份
產(chǎn)品規(guī)格 | 元素 | Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，Cl |
| | 分析范圍 | 小于5000ppm |
| | 分析模型 | 定性模式：快速檢測(cè)元素的存在 定量模式：確定元素成份 |
| | | 一次測(cè)量可同時(shí)得到涂層和基底中的元素成份并分別記錄 |
| | 定性測(cè)量時(shí)間只測(cè)基底 | 塑料，木頭，橡膠，皮革，織物，濕涂料未~2min 金屬為~3min |
| | 定量測(cè)量時(shí)間涂層 | ~5min |
| | 測(cè)量面積 | 直徑1mm |
| | 環(huán)境溫度 | 5-35°C |
| | 相對(duì)濕度 | 80%max |
| | 功率要求 | 90~264VAC,47~63Hz |
| | 光管電壓 | 50kVmax |
| | 系統(tǒng)功耗 | 200W max |
結(jié)構(gòu) | 分析儀尺寸 | H:812mm.W:914mm. D:660mm（32”×36”×26”） |
| | 樣品室尺寸 | H:560mm.W:851mm. D:582mm （22”×33.5”×23”） |
| | 分析儀重量 | 110kg（240Ibs） |
| | 數(shù)據(jù)輸出 | 硬盤存儲(chǔ) 為L(zhǎng)IMS連接USB輸出接口 |
| | 攝像頭 | 一個(gè)攝像頭：樣品的大視角成像 另一攝像頭：分析面積的近視角成像 |
| | 操作 系統(tǒng) | 視窗系統(tǒng) |
| | 探測(cè)面積選擇 | 激光對(duì)中 |
用戶界面 | 材料選擇 | 塑料，金屬，木頭，玻璃，橡膠，皮革，織物 |
| | 量化：測(cè)試結(jié)果 | 基底中的成份單位是ppm(wt），用顏色塊表示是否通過(guò)涂層中成份單位是ppm（wt）和ug/cm2 ，用顏色塊表示是否通過(guò) 包含光譜分析 |
| | 定性：測(cè)試結(jié)果 | 顏色塊表示是否通過(guò) |
| | 用戶輸入操作員名字和樣品細(xì)節(jié) | 用戶，樣品定義和描述 |
| | 數(shù)碼成像 | 每次測(cè)量都儲(chǔ)存樣品和被測(cè)面積的圖像 |
| | 校準(zhǔn) | 自動(dòng)校準(zhǔn)程序 |
