徠卡EM TXP 標靶面制備系統具有定點修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術檢測。 帶有一體化體視鏡，用于精確定位及對較細微難以觀察的目標位置進行樣品處理時觀察；使用樣品旋轉手柄，可以改變樣品觀察角度，0°－60°可調，或者垂直于樣品前表面90°觀察，可利用目鏡刻度標尺測量距離。

全新的精研一體機

LEICA EM TXP

LEICA EM TXP是一款*的可對目標區域進行精確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、

拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標精細定位或需對肉眼難以觀察的微小目標進行定點處理。有了

Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成。

在 Leica EM TXP 之前，針對目標區域進行定點切割，研磨或拋光等通常是一項耗時耗力，很困難的工作，因為目標區域極易丟失

或者由于目標尺寸太小而難以處理。使用 LeicaEM TXP ，此類樣品都可被輕易處理完成。

另外，借助其多功能的特點，Leica EM TXP 也是一款可為離子束研磨技術和超薄切片技術服務的*效的前制樣工具。

與觀察體系合為一體

在顯微鏡下觀察整個樣品處理過程和目標區域將樣品固定在樣品懸臂上，在樣品處理過程中，通過立體顯微鏡可對樣品進行實時觀

察，觀察角度0°至60°可調，或者調至 -30°，則可通過目鏡標尺進行距離測量。Leica EMTXP 還帶有明亮的環形LED光源照明，以

便獲得視覺觀察效果。

> 對微小目標區域進行精確定位和樣品制備

> 通過立體顯微鏡實現原位觀察

> 多功能化機械處理

> 自動化樣品處理過程控制

> 可獲得平如鏡面的拋光效果

> LED 環形光源亮度可調，4分割區段可選

為微尺度制樣而生

對毫米和微米尺度的微小目標進行定位、切割、研磨、拋光是一項具有挑戰性的工作，主要困難來自：

> 目標太小，不容易觀察

> 精確目標定位，或對目標進行角度校準很困難

> 研磨、拋光到目標位置常需花費大量人力和時間

> 微小目標極易丟失

> 樣品尺寸小，難以操作，往往不得不鑲嵌包埋

一體化顯微觀察及成像系統

Leica M80 立體顯微鏡

> 平行光路設計：通過*主物鏡形成平行光路，焦平面一致

> 高倍分辨率：所有變倍比下都有的圖像質量和穩定的光強

> 人體工學設計：使用舒適度，無肌肉緊張感和疲勞感

Leica IC80 HD 高清攝像頭

> 無縫設計：安裝在光學頭和雙目筒之間，無需添加顯像管或光電管

> 高品質圖像：與顯微鏡共軸光路確保圖像質量及獲得無反光圖像

> 提供動態高清圖像，連接或斷開計算機均可使用

4 分割區段亮度可調 LED 環形光源

> 不同角度照明顯露樣品微小細節

Leica Application Suite (LAS 圖像測量與分析軟件)*

> 實現數字化成像

> 可對圖像進行處理和分析

多種方式制備處理樣品

樣品無需轉移，只需切換工具

不需要來回轉移樣品，只需要簡單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過程，并且樣品處理全過程都可通過顯微鏡進行實時觀察。出于安全考慮，工具和樣品所在的工作室帶有一個透明的安全罩，可避免在樣品處理過程中操作者不小心觸碰到運轉部件，又可防止碎屑飛濺。

LEICA EM TXP可對樣品進行如下處理：

> 銑削

> 切割

> 研磨

> 拋光

> 沖鉆

制樣過程

應用舉例

（1）對PCB板中的通孔的截面進行處理

（2）對IC中金線焊接點的定點切割拋光處理

（3）顆粒樣品未經包埋，粘在樣品臺上制樣

（4）手表中螺母螺帽

（5）鍍鉻的器件上的微小缺陷