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XTU-50A X熒光鍍層測厚儀 鍍層厚度檢測儀器

參考價 138000
訂貨量 ≥1
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X熒光鍍層測厚儀 鍍層厚度檢測儀器,專門研發用于鍍層行業的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。

詳細信息 在線詢價

X熒光鍍層測厚儀  鍍層厚度檢測儀器

儀器簡介

XTU系列測厚儀雖然結構緊湊,但是都有大容量的開槽設計樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。

搭配微聚焦射線管和*的光路設計,以及變焦算法裝置,可測試極微小和異形樣品。

檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測量面積0.002mm2·凹槽可達90mm。

外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動,移動精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的樣品測試都沒有難度,讓操作人員輕松自如。



X熒光鍍層測厚儀  鍍層厚度檢測儀器

應用領域

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測

衛浴產品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽離子檢測

性能優勢:

下照式設計:可以快速方便地定位對焦樣品。

無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm.

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。

效率高的接收器:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩定性。

精密微型滑軌:快速精準定位樣品。

EFP*算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

項       目參        數
測量元素范圍Cl(17)-U(92)
涂鍍層分析范圍各種元素及有機物
分析軟件EFP,可同時分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析
軟件操作人性化封閉軟件,自動提示校正和步驟,避免操作錯誤
X射線裝置W靶微聚焦加強型射線管
準直器? 0.05 mm  ;? 0.1 mm;? 0.2 mm;? 0.5 mm;準直器任意選擇一種
最近測距光斑擴散度10%
測量距離具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察1/2.5彩色CCD,變焦功能
對焦方式高敏感鏡頭,手動對焦
放大倍數光學38-46X,數字放大40-200倍
樣品臺尺寸500mm*360mm
移動方式高精密XY手動滑軌
可移動范圍50mm*50mm
隨機標準片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件聯想電腦一套、噴墨打印機、附件





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