JC502-X5600是一種體現(xiàn)X射線熒光分析技術(shù)進(jìn)展的能量色散X射線熒光光譜儀。

JC502-X5600--ROHS及無鹵素檢測(cè)儀 X射線熒光光譜儀 ROHS及無鹵素測(cè)試儀詳細(xì)介紹

整機(jī)技術(shù)規(guī)格：
激發(fā)源：本機(jī)采用低功率 X 射線管（Ag靶），zui高電壓可達(dá)50KV，zui大電流1mA
高壓電源：zui大50W，50KV，1mA
探測(cè)器：電制冷   Si PIN半導(dǎo)體探測(cè)器（55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優(yōu)于149eV）
多道分析器：2048道
軟件：基于WINDOWS的強(qiáng)大工作軟件。定量分析包括：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。定性分析包括： KL線標(biāo)記，譜圖比較和光標(biāo)尋峰等。客戶可進(jìn)行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個(gè)分析方法。
6電源：交流220V  50Hz
7體積：520mm  x  600mm  x  270mm
8重量：約 42kg  (主機(jī))

整機(jī)技術(shù)性能：
測(cè)量元素范圍寬：從鋁（13）至鈾（92）都可測(cè)量
可測(cè)量含量范圍，從ppm至*
測(cè)量速度快，通常為幾十秒到幾分鐘
多元素同時(shí)定性定量
蜂位漂移：八小時(shí)小于1%

進(jìn)口探測(cè)器的性能指標(biāo)：
探測(cè)器類型：電制冷Si-PIN
探測(cè)面積：2.4x2.8mm（6mm2）
硅活化區(qū)厚度：500um
探測(cè)器分辨率： 對(duì)于55Fe，@5.9keV  對(duì)于12us的形成時(shí)間，半高寬為149Ev
探測(cè)器窗口：鈹窗，12.5um厚

進(jìn)口高壓電源規(guī)格：
電壓和電流從零至滿量程連續(xù)可調(diào)，zui大50KV，1mA
電壓調(diào)整率：負(fù)載調(diào)整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程的 0.01 %
線性調(diào)整率：對(duì)于規(guī)定的輸入電壓范圍，該數(shù)值為滿量程的0.01%
電流調(diào)整率：負(fù)載調(diào)整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%
              線性調(diào)整率：對(duì)于規(guī)定的輸入電流范圍，該數(shù)值為滿量程的0.01%
穩(wěn)定性：經(jīng)過半小時(shí)預(yù)熱后，每8小時(shí)變化不超0.05%
溫度系數(shù)：溫度變化一度，電壓變化不超過0.01%

詳細(xì)參數(shù)：
測(cè)量范圍：Pb，Hg，Cr，Cd，Br，Cl
測(cè)量精度：低于100ppm時(shí)精確度15ppm，大于100ppm時(shí)，精確度15%
分析元素：Pb，Hg，Cr，Cd，Br，Cl
檢出限：Pb：3.2 mg/kg (ppm)
          Hg：3.2 mg/kg (ppm)
          Cr：4.1 mg/kg (ppm)
          Cd：5.8 mg/kg (ppm)
          Br：3.1 mg/kg (ppm)
          Cl：2.4 mg/kg (ppm)
測(cè)量時(shí)間：30秒——120秒可選
X射線源：X光管
工作環(huán)境溫度：10℃——45℃
工作環(huán)境濕度：20%——80%
高壓器：50Kv
操作系統(tǒng)：windows XP

產(chǎn)品詳情：  
JC502-X5600是一種體現(xiàn)X射線熒光分析技術(shù)進(jìn)展的能量色散X射線熒光光譜儀。可進(jìn)行無鹵素（氯Cl、溴Br、碘I）測(cè)量它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導(dǎo)體探測(cè)器為探測(cè)單元，再加上我公司專門開發(fā)的應(yīng)用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺(tái)儀器的高分辨率及通用適應(yīng)性。任何需要多元素同時(shí)分析的地方，正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡(jiǎn)單介紹。