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XGT-5700WR ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置

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ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上,Horiba又推出用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術(shù),可將X射線聚集成10m射線束。不但可以對(duì)樣品的表面進(jìn)行形貌掃描,也可對(duì)樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)透視掃描,甚至還可以實(shí)現(xiàn)元素掃描.

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產(chǎn)品介紹

ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置

在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上,Horiba又推出用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術(shù),可將X射線聚集成10µm射線束。不但可以對(duì)樣品的表面進(jìn)行形貌掃描,也可對(duì)樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)透視掃描,甚至還可以實(shí)現(xiàn)元素掃描.

概要

應(yīng)用

PCB基板的掃描為例

 

電子組件內(nèi)部的異物、故障解析為例

特征

 

XGT-5700WR系列

X線照射徑

Ø3mm標(biāo)準(zhǔn)
Ø100μm或Ø10μm

一次X線濾膜

Ø3mm照射徑:4種自動(dòng)切換
Ø10μm照射徑:無濾膜
Ø100μm照射徑:無濾膜

二次X線濾膜

用于金屬中有害元素高靈敏度測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)裝備
(ON/OFF自動(dòng)切換)

X線檢測(cè)器

液體氮?dú)饫鋮s3L

高純度Si檢測(cè)器

樣品形狀

不超過350×400×40mm

樣品載臺(tái)

掃描范圍:100×100mm? 200×200mm(可選)


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