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日立臺式XRF鍍層測厚儀 X-Strata980

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出色的精確性和長期的穩定性:●日立分析儀器生產的100瓦X射線管大大提高了靈敏度實現快速精確的分析;●高分辨半導體探測器完成簡單快速的元素識別;●通過多個初級濾波器對全元素范圍實現的分析效果;●日立分析儀器公司的低背景測量板,實現更低的檢出下限

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出色的精確性和長期的穩定性:

●日立分析儀器生產的100瓦X射線管大大提高了靈敏度實現快速精確的分析;

●高分辨半導體探測器完成簡單快速的元素識別;

●通過多個初級濾波器對全元素范圍實現的分析效果;

●日立分析儀器公司的低背景測量板,實現更低的檢出下限。 詳細資料請咨詢客服! 利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質量控制。 X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備,提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。 它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。
 
X-Strata980 – 靈活、多元素、無損的材料分析
一款全面強大的X射線熒光分析儀,能夠檢測各種大小的樣品
快速、精確分析固體、液體和粉末
程控臺的大樣品艙方便樣品擺放和測量(可選)
集成電腦節省了臺式儀器的空間
高分辨率檢測器使檢測下限降到
應用廣泛,包括光電池、RoHS有害元素篩選和貴金屬分析


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