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德國馬爾粗糙度輪廓儀MarSurf XCR 20

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在測量站使用MarSurfXCR20測量粗糙度和輪廓這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和輪廓測量

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在測量站使用 MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和
輪廓測量。
根據(jù)測量任務(wù),可使用 GD 25 驅(qū)動裝置進行表面粗糙度測量,或使用 PCV 驅(qū)動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。
  • 節(jié)省空間型設(shè)計:兩個驅(qū)動裝置可使用相應(yīng)的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
  • 一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
  • 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統(tǒng)對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和的分辨率
  • 只需在軟件平臺內(nèi)進行切換并更換驅(qū)動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量
接觸速度(Z 方向)
0.1 至 1 mm/s
測桿長度
175 mm, 350 mm
測量速度(文本)
0.2 mm/s 至 4 mm/s
針尖半徑
25
掃描長度末尾(X 方向)
200 mm
分辨率

Z 方向,相對探針針頭:
0.38 µm(350 mm 測桿)/ 0.19 µm(175 mm 測桿)

Z 方向,相對測量系統(tǒng):
0.04 µm

掃描長度開始(X 方向)
0.2 mm
取樣角
在平滑表面上,取決于偏差:
后緣高至 88°,前緣高至 77°
定位速度(文本)
X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
導(dǎo)塊偏差
< 1 µm(200 mm 以上)
測量原則
探針法
輸入
R 測頭,MFW 250
光學(xué)測頭 Focodyn*、LS 1*、LS 10*
(*僅結(jié)合 PGK 或 GD 120 CNC 驅(qū)動裝置)
測量范圍 mm
(in Z) 50 mm
MFW 250: ±25 µm,±250 µm,( ±750 µm);±1000 µin,±10,000 µin( ±30,000 µm)
掃描長度(文本)
自動;0.56 mm;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm,
(.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸),
測量至擋塊,可變
采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS
1 至 50(默認(rèn):5)
測量力 (N)
1 mN 至 120 mN 左右
(可在 MarSurf XC 20 中設(shè)置)
可選:
  • MarSurf ST 750 測量立柱
  • 平行虎鉗
  • 設(shè)備工作臺

軟件選項
  • 輪廓處理選項
  • 主波紋度選項
  • 用戶定義參數(shù)
  • 拓撲選項
  • QS-STAT / QS-STAT Plus 選項
  • 螺紋評定選項
  • 將測量站與一個測量支架和兩個驅(qū)動裝置結(jié)合(PCV 200 和 MarSurf GD 25)
  • 將測量站與快速更換支架結(jié)合 (GD 120, PCV 20)
  • MarSurf LD 130 / 260 用于對組件進行精密輪廓和粗糙度評估
  • MarSurf XCR 20 包含計算機、MidRange Standard、MarSurf XCR 20 軟件、Mahr 許可密鑰
  • TFT 顯示器
  • MarSurf PCV 200 / MarSurf GD 25 驅(qū)動裝置
  • MarSurf ST 500 測量立柱包含組裝支架
  • 校準(zhǔn)套件,PGN-3
  • MCP 21 手動控制面板
  • CT 300 XY 工作臺


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