X射線熒光光譜儀-XRF廠家型號:帕納科ZETIUM技術參數:Zetium是帕納科公司推出的集多種X射線分析的硬件和軟件技術于一個分析平臺的X射線光譜系統
X射線熒光光譜儀-XRF
廠家型號:帕納科ZETIUM
技術參數:
Zetium 是帕納科公司推出的集多種X射線分析的硬件和軟件技術于一個分析平臺的X射線光譜系統。其創造的SumXcore技術既“多核X射線分析技術”使X射線光譜技術進入了一個新的里程,使 Zetium 在多種環境下擁有高分析能力、速度和任務靈活性。
1.測量元素范圍:F-Am元素;濃度范圍:ppm-99%;
2.多核X-射線分析系統,可在一臺儀器上可實現掃描式X射線波長色散分析、X射線能量色散分析、X-射線聚焦微小區域分析、專用游離氧化鈣X射線衍射分析;
3.波長色散通道(波譜核)和能量色散通道(能譜核)可同時分別得到F- Am 和Na-Am 所有元素的光譜數據和定量分析結果;
4.分析軟件完整的分析及校準軟件包 ,擁有理論、系數、經驗和FP基本參數法計算功能。
應用范圍:
用于金屬材料、非金屬材料、塊狀樣品、玻璃熔片樣品、粉末壓片樣品、松散粉末樣品、液體樣品、不規則樣品等定性、定量及無標樣定量分析。
表征項目:
對未知材料進行定性半定量分析。
樣品要求:
粉末或固體樣,粉末樣品用量 5g ,塊體要求直徑3cm 。
*您想獲取產品的資料:
個人信息: