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日立超聲波掃描儀

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應用范圍：檢查IC封裝及電子部品內部的剝離，裂痕，空隙等缺陷

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應用范圍：

檢查IC封裝及電子部品內部的剝離，裂痕，空隙等缺陷。


特性：
高品質(Fine)：
開發500MHz超音波探傷儀，大富提高影像品質，高精密度掃瞄，可產生0.5um 解析度圖形17500 x 7500。
快速(Fast)：
掃瞄機速度高達1000mm/sec，較傳統增加67%, 搭配加大掃瞄區域，增加其單位處理量。
彈性(Flexible)：
配合各種需求可搭配各式探頭(Probe)，提供更強的客製功能與使用的方便性。
 
產品功能：
立體傾斜式掃瞄(S-Image，日立)：
幫助更容易取得焦點位置。
多重影像、參數儲存(Image Index，日立)：
所有參數可以與影像同時儲存，對于類似待測物(Sample)可迅速取得影像。
自動多層掃瞄(Multi-gate Image)：
在既定的高度，可取得多達64層影像。
完整的探頭(Probe)組合。




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