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M2型全譜直讀光譜儀

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M型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，全數字化及互聯網技術結合，運用高分辯率CMOS檢測器，精密設計的氬氣吹掃系統，使儀器具有較高的性能、較低的成本、以及竟爭力的價格

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M2型全譜直讀光譜儀

M型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，全數字化及互聯網技術結合，運用高分辯率CMOS檢測器，精密設計的氬氣吹掃系統，使儀器具有較高的性能、較低的成本、以及竟爭力的價格。

M2可應用于多種材料的分析。
01 小巧、輕便、精致、可靠的儀器結構，具有同類型直讀光譜儀準確的分析數據。
02 超小設計的光學室結構及優化設計的氬氣吹掃系統，保證紫外區元素譜線的透過率。
03 應用高分辯多CMOS讀出系統，較低的暗電流、較好的檢出限、較高的穩定性、較強的靈敏度。
04 全數字化的智能復合光源DDD技術，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同元素的激發要求。
05 FPGA數據采集及以太網網絡數據傳輸技術，保證數據一致性及數據傳輸速率。
06 內置工廠校正曲線及曲線擴展技術，滿足不同材料的技術要求。
07互聯網網絡技術及數據云儲存。
08 操作簡單、維護成本低、質量可靠。
09 竟爭力的價格。
精密設計的氬氣吹掃系統
光室密封性強，可保持內部氬氣長期純凈。
光室空間優化設計，降低氬氣消耗，有效節約產生成本。
低氬氣吹掃系統，確保光室UV波段測量環境。
光室充氬免除復雜的真空系統。
高分辯率CMOS檢測器實現全譜分析
譜線覆蓋了所有的重要元素，滿足所有基體和材料的分析。
高靈敏的紫外區檢測，對N的分析檢測更準確。
可有效選擇元素靈敏線，保證分析的準確度。
多峰擬合技術，有效消除譜線干擾，實現精準測量。
分析軟件功能強大
1)基于Windows系統的多國語言的CCD全譜圖形化分析軟件，方便實用；
2)管理的控制整個測量過程及為用戶提供強大的數據處理能力和測試報告輸出能力；
3)儀器可配置多條工廠校正曲線及更多材質分析及解決方案；
4)軟件實現全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法，提高儀器的分析能力；
5)完備的自動系統診斷功能；
6)完善的數據庫管理功能，可方便查詢、匯總數據；
7)智能校正算法，保證儀器穩定可靠；
8)完備的譜線信息和干擾扣除算法，保證儀器分析更為精準；
9)適應Windows操作系統。
主要技術參數

項目 M2
檢測基體 單基體
光學系統 帕型-龍格結構
光室結構 充氬方式
波長范圍 165-580nm
光柵焦距 150mm
光柵刻線 3600條/mm
探 測 器 多CMOS檢測器
光源類型 可編程脈沖數字光源
儀器尺寸 643*450*270
儀器重量 30Kg




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