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場發(fā)射透射電子顯微鏡

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設(shè)備介紹TecnaiG2F30是一臺多功能、多用戶環(huán)境的場發(fā)射透射電子顯微鏡

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設(shè)備介紹

Tecnai G2 F30 是一臺多功能、多用戶環(huán)境的場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器將各種透射電鏡技術(shù)(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS頻譜成像等)進行方便靈活地有機組合,形成了強大的分析功能,從而在同類型儀器中。除具有200KV的各種優(yōu)點外,Tecnai G2 F30提供了300KV的加速電壓,可分析更厚、更具挑戰(zhàn)性的樣品。同時,該儀器使用戶可以在原子尺寸的分辨率下進行高質(zhì)量、高穩(wěn)定性的TEM、STEM和納米分析。

儀器型號

FEI Tecnai G2 F30

技術(shù)參數(shù)

  • 點分辨率0.20 nm
  • 線分辨率0.10 nm
  • 物鏡球差系數(shù)1.2mm
  • 物鏡色差系數(shù)1.4mm
  • 信息分辨率0.14nm
  • HE STEM分辨率0.17nm
  • 電子槍類型肖特基場發(fā)射槍

案例展示

    應(yīng)用范圍

     Tecnai G2 F30的主要功能是TEM形貌觀察及HRTEM,SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping。廣泛應(yīng)用于材料、化學(xué)、物理、地質(zhì)、地理、環(huán)境、生物、醫(yī)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體、高分子、陶瓷等學(xué)科及領(lǐng)域.


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