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X射線衍射儀D8 ADVANCE

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高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

詳細信息 在線詢價

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規粉末的定性定量分析、薄膜的GIDXRR)到點光源應用(織構、應力、微區)的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!

       高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

 

技術指標:

 

Theta/theta立式測角儀

 

2Theta角度范圍:-110~168°

角度精度:0.0001度                     

Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管 

 

探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  

儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            

重量:770kg

功率:6.5kW

 

 

應用

 

物相定性分析       結晶度及非晶相含量分析

結構精修及解析      物相定量分析

點陣參數精確測量    無標樣定量分析

微觀應變分析        晶粒尺寸分析

原位分析            殘余應力

低角度介孔材料測量  織構及ODF分析

薄膜掠入射          薄膜反射率測量

小角散射


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