高分辨率X射線衍射儀儀器簡介：
HRD 3000衍射計在分析領域中有很廣泛的應用，從紡織品質地到薄膜分析、張力測定和反射計等。

高分辨率X射線衍射儀儀器簡介：

HRD 3000衍射計在分析領域中有很廣泛的應用，從紡織品質地到薄膜分析、張力測定和反射計等。 
在測定層厚度和分析半導體組分的時候，借助高性能、高分辨率的衍射儀，您可以很輕松地獲得很好的結果。 
高分辨率的反射計研究中可以借助HRD 3000來確定層厚度、密度、表面和接觸面的粗糙程度。

高分辨率X射線衍射儀技術參數：
 

用途：應用SHD 3000 高分辨率X-射線衍射儀來確定物質的層厚度、密度、表面和接觸面的粗糙程度 
3） 應用 
? 紡織業 
? 薄膜分析 
? 應變測量 
? 半導體中的反射、層厚度、組分、密度、表面和接觸面的粗糙程度

高分辨率X射線衍射儀主要特點：

有原位微處理器的超高穩定性的X射線發生器，微處理器可通過電腦串行接口控制 
高亮玻璃和陶瓷的X-射線管，在直線和點的焦點位置快速旋轉 
X-Y和旋轉臺的電子管屏蔽 
應用Max-FluxTM 光學系統的平行光束光路 
Eulerian cradle可以使樣品片刻就排列在一起 
通過帶有光學編碼器的步進電動機進行精確定位的高精度，高速度的測角儀 
所有電機具有七級自由度 
大尺寸X-Y-Z（X，Y，Z可調節，X，Y為150mm，Z為25mm）機械樣品支架可以測量200mm的樣品圓片或者其他類型的樣品 
用于Cr、Fe、Co、Cu 和Mo輻射的二級單色器 
花崗巖工作臺為測角儀提供了高的機械穩定性 
降低背景值或提高強度的使用填充氙氣的比例、閃爍計數器、固體狀態、線性和彎曲位敏檢測器（PSD） 
使用Microsoft Windows 2000/NT/ME 或 XP 操作系統，在32位環境下進行數據處理和儀器控