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SPOT中波紅外焦平面陣列空間響應測試系統

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SPOT測試系統的外形圖SPOT中波紅外焦平面陣列空間響應測試系統是掃描式光斑投影系統,它將高亮度的極小光斑投射到被測MWIRFPA表面上,同時測量其輸出信號

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SPOT測試系統的外形圖

SPOT中波紅外焦平面陣列空間響應測試系統是掃描式光斑投影系統,它將高亮度的極小光斑投射到被測MWIR FPA表面上,同時測量其輸出信號。它可以直接測量MWIR FPA傳感器的空間響應分布函數,也可間接精確測量這些成像傳感器的MTF和串擾。

SPOT測試系統的各部件結構如下,包括光斑投影系統和掃描系統。測試原始紅外FPA傳感器時,SPOT還可以配置與FPA相匹配的高動態范圍電路。

SPOT測試系統的原理圖

設備特性:

? 測量FPA單個像元輸出的信號,通過反卷積來計算結果

? 計算MTF和串擾

? 軟件提供調焦功能

產品參數

  • 參數

    描述

    被測傳感器

    傳感器類型

    制冷式 MWIR FPAs 響應范圍 1 um 到 5.5 um

    可供選擇的被測傳感器

    SWIR FPAs, VIS-NIR FPAs,   UV FPAs

    像元尺寸

    典型尺寸 > 8um

     可選 < 8 um

    FPA 分辨率

    SXGA 格式 1280 x 1024

    響應率

    >0.1 A/W

    配件

    需提供讀取設備和杜瓦瓶

    光斑投影系統

    功率

    4 mW

    光斑直徑

    在70% 能量時< 6 um

    功率調節范圍

    大于100

    光學部件

    近似,達到衍射極限

    控制方式

    USB接口,PC控制

    掃描系統

    XY掃描范圍

    不小于 10x10 mm

    掃描分辨率

    粗略移動 – 2.5 um; 精準移動 - 0.5 um

    調焦范圍

    18 mm

    調焦分辨率

    0.5 um

    控制方式

    USB接口,PC控制

    環境要求

    工作溫度

    +5oC 到35oC

    儲藏溫度

    -5oC 到55oC

    工作濕度

    不超過85%

    儲藏濕度

    不超過90%



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