產品介紹VIT測試系統外形圖VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統是一個可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統,支持成像探測器所有重要參數的測試
產品介紹
VIT測試系統外形圖
VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統是一個可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs 成像探測器的測試系統,支持成像探測器所有重要參數的測試。
VIT測試系統是一個模塊化的測試系統,由以下五個部分組成:雙圖像投影通道,一組圖像采集卡,及,測試軟件和可選的測試原始芯片用的CON控制模塊。雙圖像投影通道是VIT測試系統的核心模塊,包括輻射通道和成像通道。
VIT測試系統提供了一組傳統參數的測量,這些參數通常用于表征紅外焦平面/熱成像核心的性能。另外也提供成像傳感器和相機的EMVA1288標準推薦的性能參數測試。
一般測試功能:
1. 輻射參數:相對光譜靈敏度、比探測率D*、量子效率QE、靈敏度、動態范圍、線性度、NEI、FPN固定圖形噪聲、非均勻性、信噪比、壞像素數、3D噪聲。可以測量16個不同波長下的情況。
2. 成像參數:調制傳遞函數MTF、分辨率、最小可分辨對比度、串擾、高光溢出Blooming、視場。
EMVA1288測試功能:量子效率,增益,時間暗噪聲,DSNU1288,信噪比,PRNU1288,LE非線性,靈敏度閾值,飽和容量,動態范圍,暗電流,相對光譜靈敏度。
產品參數
表1 用于定義VIT測試系統版本的兩位數編號
編號 | A列:已封裝傳感器 | B列:電子控制模塊支持的被測件 |
1 | VIS-NIR傳感器 | 相機核心 |
2 | InGaAs傳感器 | 相機核心和最多兩個原始傳感器 |
3 | VIS-NIR傳感器和InGaAs 傳感器 | 相機芯和多個原始傳感器 |
表2 產品詳細參數
電源 | 230/110 VAC 50/60 Hz 功率<800W |
工作溫度 | 10°C to 40°C |
尺寸 | 約163x63x73 cm |
重量 | 約91kg(不包括PC) |
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