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SIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統

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產品介紹:SIT測試系統是兩個主要模塊的總和:波長和光強連續可調的校準光源SITO和IPS圖像處理系統(PC、圖像采集卡、軟件)

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  • 產品介紹:


SIT測試系統是兩個主要模塊的總和:波長和光強連續可調的校準光源SITO和IPS圖像處理系統(PC、圖像采集卡、軟件)。被測探測器位于SITO光源的輸出端,傳感器受到所需波長和輻照度的光的均勻照射,被測探測器生產標準格式的圖像,通過IPS系統采集并分析圖像,確定VIS-SWIR成像探測器的重要參數。

  • 產品參數:
  • 一般參數


    工作溫度范圍

    +5oC+35oC

    儲存溫度范圍

    -5oC +55oC

    濕度范圍

    90%(無冷凝)

    重量

    58kg

    尺寸

    173 x 43 x 28 cm


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