產品介紹：

追求理想的三維結構分析

通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續截面圖像，并重構特定微區的三維結構。

采用的鏡筒布局，從材料、設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內實現傳統機型難以企及的高精度三維結構分析。

產品特點：

·SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角，形成三維結構分析的鏡筒布局

·融合高亮度冷場發射電子槍與高靈敏度檢測系統，從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品

·通過選配口碑良好的Micro-sampling?系統*和Triple Beam?系統*，可支持制作高品質TEM及原子探針樣品

垂直入射截面SEM觀察可忠實反映原始樣品結構

SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角，實現FIB加工截面的垂直入射SEM觀察。

舊型FIB-SEM采用傾斜截面觀察方式，必定導致截面SEM圖像變形及采集連續圖像時偏離視野，直角型結構可避免出現此類問題。

通過穩定獲得忠實反映原始結構的圖像，實現高精度三維結構分析。

同時，FIB加工截面（SEM觀察截面）與樣品表面平行，有利于與光學顯微鏡圖像等數據建立鏈接。